GBC 감지 결합 플라즈마 비행 시간 질량계 (ICP-TOFMS)



1. 요약

* 감응 결합 플라즈마 직각 가속식 비행시간 질량분석기(ICP-oa-TOF-MS)는 수기 용액과 레이저 부식 시료를 고감도, 고정밀 및 고정밀도로 분석하기 위해 원소를 정성, 정량 및 동위원소 분석하는 데 사용된다.

1.1 기기 유형

계기는 전감 결합 플라즈마 이온원, 이온 광학, 이온 반사강이 있는 직각 가속식 비행시간 질량 분석기, 데이터 처리 시스템과 배합된 이온 검측 시스템 등 부분으로 구성된다.워크스테이션 및 필수 워크스테이션 소프트웨어는 기기 제어 및 데이터 수집, 처리 및 저장을 진행할 수 있다;계측기는 고진공, 전통적인 용액의 안개화를 유지하는 데 필요한 모든 샘플 도입 시스템을 포함해야 하며, 계측 운행에 필요한 관련 설비와 소프트웨어도 포함해야 한다.

1.2 주요 지표 요구 사항

1.2.1 * 60개 이상의 요소를 동시에 정량 분석

1.2.2 선형 동적 범위 108, 선형 편차 20% 이내 유지

1.2.3 전자동 컴퓨터 제어 분석 과정

1.2.4 레이저 부식 부속품과 완전히 일치하는 인터페이스가 있어 레이저 부식의 샘플링과 분석 과정을 제어한다

1.3 기기 주요 시스템 단위

1.3.1 RF 전원, 임피던스 매칭 시스템, 토치 박스 및 분무기 구성 요소를 포함하여 컴퓨터가 제어하는 RF 무선 주파수 발생 시스템

1.3.2 이온 샘플링 시스템 및 이온 초점 광학 시스템

1.3.3 진공 시스템, 판독 및 상호 잠금 시스템, 3단 송곳 뒤에 문밸브가 있어 3단 송곳이 진공 시스템을 파괴하지 않도록 유지

1.3.4 컴퓨터가 제어하는 아르곤 기류 시스템

1.3.5 이온 반사 캐비티가 있는 직각 가속식 이온 가속기

1.3.6 임계값 제어식 펄스 증폭 누적 이온 검사 시스템

1.3.7 컴퓨터를 통한 기기 제어 및 데이터 수집 시스템

1.3.8 데스크탑 구조의 기기

1.3.9 소프트웨어로 완전히 제어되는 자동 샘플링 옵션

1.3.10 항온 유리 회전 안개실이 있는 동심축 유리 안개기

1.3.11 워크스테이션 시스템



2.기기 조작 성능 지표

2.1 품질 범위

* 측정 기구는 질량 하비 (m/z) 가 1-260amu 범위 내의 모든 양이온을 측정할 수 있어야 한다.

2.2 기기 분별 능력

* 품질분석기의 품질분별능력(FWHM)은 5Li, m/m>600에 도달해야 한다.맞아요 238U, m/strom > 2000.

2.3 선형 동적 범위

계기의 선형 동적 범위는 8개의 수량급에 달해야 하며 선형 편차는 20% 보다 크지 않아야 한다.

2.4 풍도 감도

일반적인 작동 조건에서 1-260amu의 전체 질량 범위에서 배경 값은 5cps(초당 수)보다 작습니다.

2.5 산화물 이온

일반적인 조작 조건에서 모든 원소의 산화물 신호 강도는 그 속 이온 강도의 3.0% 보다 크지 않다;일반값 CeO/Ce<1%

2.6 고가의 이온

일반적인 조작 조건에서 모든 원소의 고가의 이온 피크 강도는 그 1가 이온 피크 강도의 2% 보다 크지 않다;일반값 Ba++/Ba+<1%

2.7 분석 속도

* 장비는 다음 샘플링을 위해 준비된 샘플 채널의 세척 시간을 포함하여 최소 120가지 원소의 분석을 30초 이내에 완료할 수 있어야 합니다.



3. 기기 분석 성능 지표

3.1 체크 아웃 제한

일반적인 작동 조건에서 제조업체의 기본 시간 창 (또는 품질 폭 창) 을 사용하여 1ppb (ng/mL) 가 함유 된 Be, Co, Rh, In, Cs, U의 1% HNO3 수용액 테스트를 수행하고 계측기는 <10ppt (ng/L, Be, Co) 및 <1ppt (ng/L, Rh, Cs, In, In, NU) 검출되어야합니다.검출 제한은 5초 적분 시간, 10회 판독의 표준 편차의 3배를 적용한다.

3.2 동위원소비율 테스트 성능

*Ag 동위원소비의 측정 정밀도는 0.1%보다 우수해야 하며, 테스트 샘플은 10ug/L의 천연 풍도의 Ag 용액으로 3x5s의 포인트를 사용한다.



4. 무선 주파수 발생 시스템의 기술 사양

4.1 27.12MHz, 2.0KW의 RF 전원, RF 출력은 1600W 이내에서 연속적으로 조절할 수 있다.냉각기 출구에는 가스 유량 센서가 비치되어 있으며 냉각기 자동 차단 장치가 있다.

4.2 작동 한계를 초과하면 안전 또는 잠금 장치가 자동으로 차단된다.작동 한계에는 아르곤 및 냉각수 흐름이 포함되어야 하지만 이에 국한되지는 않습니다.

4.3 점화, RF 전력 제어, 임피던스 매칭 및 종료 동작은 수동 및 자동적으로 제어할 수 있습니다.



5. 샘플링 시스템의 기술 규격

5.1 횃불 관

* 토치 파이프는 이동 가능한 스탠드에 고정되어 있으며, 스탠드는 상하, 출입 및 측면 동작을 할 수 있으며, 토치 파이프는 샘플링 송곳과 비교하여 X, Y, Z 방향으로 조정할 수 있습니다 (도정은 각각 5-25mm; -2-2mm 및 -2-2mm, 0.1mm의 조절 스텝).

5.2 안개 및 안개실

5.2.1 동심축 분무기는 염산과 질산에 견디는 재료로 만든다.용액이 분무기에 들어가는 속도는 800mL/min 미만이어야 한다.안개실은 안개기에 연결되어 있어 염산과 질산의 부식에 강하다.안개실은 가능한 한 작아서 기억효과를 최소화해야 한다.안개기와 안개실은 모두 청결하고 교체해야 한다.

5.2.2* 3소켓 아르곤 가스 (샘플, 플라즈마 및 냉각 가스) 에는 각 소켓 가스의 흐름을 나타내는 판독 장치가 있는 조절 가능한 전자 품질 트래픽 컨트롤러가 장착되어 있습니다.냉각 가스 흐름 센서는 아르곤 가스 출구 파이프라인에 설치되며 자동 절단 장치가 있습니다.

5.3 웜 펌프

웜펌프는 용액을 분무기로 전송하는 안정속도를 가져야 하며, 웜펌프의 펌프 속도는 연속적으로 조절할 수 있고 컴퓨터를 통해 제어할 수 있어야 하며, 웜펌프는 적어도 3채널 펌프 헤드를 가지고 있어야 한다.



6. 샘플링 및 비행 시간 분석기

6.1 샘플링 송곳

샘플링 송곳은 플라즈마와 1급 진공 사이의 인터페이스의 첫 번째 부품으로, 샘플링 송곳의 재료는 반드시 일반적인 조작 조건에서 부식되지 않아야 하며, 샘플링 송곳의 수명은 500시간 이상이어야 하며, 샘플링 송곳의 유지보수와 교체는 질량 분광기의 높은 진공을 파괴하지 않고 진행할 수 있다.수용 가능한 용액 중 용해되지 않은 고체물의 함량은 0.3% 이상이어야 한다.

6.2 테이퍼 분리

* 테이퍼 컷은 1, 2급 진공 및 2, 3급 진공 사이의 경계를 정의하며, 정상적인 분석 시 테이퍼 컷은 부식되지 않아야 하며, 테이퍼 컷의 유지 보수 및 교체는 질량 분광기의 높은 진공을 파괴하지 않고 진행할 수 있다.

6.3 이온 가속 시스템

* 직각 가속 방식으로 펄스 주파수를 30000회/초 이상 가속합니다.

6.4 비행 시간 분석기

6.4.1 비행시간 분석기의 기하학적 구조는 이온 반사강이 있는 0.5m의 비행관 2개이며, 이온 백화기를 사용하여 불필요한 고강도 이온 흐름을 제거한다.

6.4.2 정상적인 조작 한계를 초과할 때 안전 또는 잠금 장치는 전극의 고압을 자동으로 차단한다.작동 한계는 진공 실수, 냉각 가스 실수 및 물 흐름 실수를 포함하되 이에 국한되지 않아야 합니다.초기 튜닝 시 수동으로 오버로드 작업을 수행할 수 있습니다.



7. 진공강과 펌프의 규격

7.1 * 진공 장치에는 최소 1개의 기계식 펌프와 3개의 터빈 분자 펌프가 포함되어야 합니다.

7.2 진공 유닛은 연속적으로 작동해야 하며 He를 포함한 여러 종류의 가스를 추출할 수 있어야 하며 조절할 필요가 없다.이를 통해 고객은 실제 필요에 따라 아르곤 이외의 플라즈마 가스를 채택할 수 있습니다.



8. 계기 컴퓨터 성능 지표

8.1 컴퓨터 기능

컴퓨터는 ICP-TOFMS 기기와 그 부속품, 예를 들면 자동 샘플링기, 레이저 부식 원자화기의 제어, 사전 프로그래밍, 무인 경비 조작을 제어하고 모니터링할 수 있어야 한다.

8.2 데이터 수집

ICP-TOFMS의 컴퓨터 시스템은 1-260amu 범위의 질량 스펙트럼 데이터를 자동으로 수집할 수 있어야 하며, 측정 대기 샘플의 모든 주량, 미량 및 흔적 요소를 자동으로 계산할 수 있어야 한다.감지기 모드는 고객이 선택할 수 있어야 합니다.

8.3 자동 분석

초기 시작 및 튜닝 설정뿐만 아니라 자동 샘플링 제어 장치, 레이저 부식 원자화 소스 및 ICP-TOFMS 기기를 포함한 무인 수위 분석도 할 수 있습니다.포인트 적립 시간은 5분 이내에 임의로 설정할 수 있다.

8.4 패키지

8.4.1 패키지에는 필요한 모든 소프트웨어, 전자동 요소 및 동위원소 비율 측정, 요소 농도 측정 및 시스템 모니터링이 포함되어야 합니다.소프트웨어에는 데이터 수집과 삭제 등 ICP-TOFMS 작업을 전면적으로 모니터링하는 프로그램이 포함되어야 하며, 기기가 자동으로 작동할 때 그 후의 임무를 선택할 수 있어야 한다.

8.4.2 소농도 정량 계산 근거: 실측 강도와 표준 곡선의 최적 일치 결과, 동위원소 희석법 실험 결과, 내표법 실험 결과와 표준 가입법 실험 결과.동위원소와 원소의 농도 및 그 비율에 대한 통계 정보 계산, 이온 빔 안정성 및 이온 계수 통계 데이터의 측정 및 계산 및 분석 실험 조건의 기록 및 보고가 가능합니다.

8.4.3 소프트웨어는 모든 기기의 매개 변수를 자동으로 최적화하고 반정량 분석과 반정량 분석을 할 수 있어야 한다.

*8.4.4 소프트웨어에는 스펙트럼 지문 기능도 있어야 합니다.



9.일반 기기 규격

9.1 전압 요구 사항

220-240 VAC, 7kVA, 20A, 50-60 Hz.

9.2 배풍

배기가스를 배출하고 플라즈마, 전기 장치 및 진공 시스템에서 발생하는 열을 제거하기 위해 환기 장치가 있어야 합니다.