1. 광학 시스템

1.1 전체 설명

1.1.1 배경 보정 및 화염 발사 기능을 갖춘 듀얼 빔 시스템

*1.1.2 비대칭 변조 기술은 시료 빔과 비교 빔의 통과 시간 비율을 2:1로 하여 소음 감소에 사용

1.1.3 석영 코팅이 있는 전체 반사 거울 시스템

1.1.4 완전 폐쇄 광학 시스템, 먼지 방지, 증기 방지

*1.1.5 내장형 15인치 터치스크린 컴퓨터로 실험실 공간 절약



1.2 단색기

1.2.1 전체 디자인: Ebert-Fastie 디자인, 초점거리 333mm

*1.2.2 파장 범위 175nm-900nm

*1.2.3 래스터: 1800선/mm 각선 밀도, 이중 섬광 파장, 1.6 역수 분산 계수

1.2.4 파장 선택: 자동 파장 선택과 자동 피크 찾기

1.2.5 좁은 솔기 조절

*1.2.5.1 연속 조절, 스펙트럼 대역폭 범위 0.1-2nm, 조절 스텝 0.1nm

*1.2.5.2 좁은 틈 높이 감소는 모든 좁은 틈 너비에 적용

1.2.5.3 좁은 틈의 폭과 높이 자동 설정

1.2.6 파장 스캔: 자동 스캔 기능



1.3 검출기: 광범위 광전 배율 증폭관



2. 원소등

2.1 * 빈 음극등: 응용 방법을 사용하여 광원을 사용자 정의합니다.응용 광원은 양극 1개와 독립된 음극 6개로 구성되며 6-21가지 요소를 분석할 수 있다.

2.2 응용 방법 사용자 정의 광원은 최적의 광선량을 보장하기 위해 최적화 처리되었습니다.

2.3 일반 공심 음극등을 사용할 수 있는 등받이 하나.



3. 배경 보정

*3.1 초당 200회(50Hz) 또는 240회(60Hz)의 판독 주파수로 초펄스 배경 보정 기술을 사용하여 배경 피크 보정

*3.2 배경 및 샘플 측정의 시간 차이는 1ms에 불과하여 교정 정밀도를 최대화합니다.

3.3 고정밀 듀테륨 램프는 175-425nm의 보정 범위를 제공하며 2.5Abs까지 보정 가능



4. 화염 제어

4.1 전체 설명

4.1.1 버튼 제어 가스 선택, 점화 및 시동 끄기

4.1.2 프로그래밍 가능한 점화 및 끄기 순서

*4.1.3 쌍웃음기-아세틸렌화염(선택), 자동적으로 가스비율 증가



4.2 안전 체인 장치

4.2.1 공기, 아세틸렌 및 N2O 가스의 압력, 연소 헤드 유형, 액체 함정 수위, 화염 상태 및 주 전원

4.2.2 어떠한 비정상적인 현상도 불을 붙이거나 끌 수 없게 된다



5. 화염원자화시스템

5.1 연소 헤드

5.1.1 전체 티타늄 연소 헤드 설계

5.1.2 연소 헤드 길이: 10cm, 5cm 연소 헤드를 선택하여 고온 원소 분석에 사용



5.2 분무기

5.2.1 경질 폴리프로필렌 혼합 안개실의 예비 혼합 설계

5.2.2 분무기는 Pt-Ir 합금 모세관과 타성의 문구리관을 사용하여 산충격에 대한 저항력을 높인다

5.2.3 조절 가능한 샘플 증가 속도

5.2.4 타성 임팩트 볼

5.2.5 수평 수평 잠금 기능이 있는 통합 액체 봉투



5.3 흑연로 빠른 분해

*5.3.1 화염 분석 및 흑연로 분석을 전환하기 위한 흑연로 빠른 분해 기능



6. 성능 지표 확보

*6.1 감도 및 정밀도: Cu 용액 5 mg/L를 사용하여 동일한 측정에서 >0.8 abs의 감도와 RSD<0.45%의 정밀도를 동시에 획득

*6.2 일반 체크 아웃 한계: Cu의 체크 아웃 한계 0.001 ppm



7.흑연로 시스템

7.1 배경 공제 방식: 듀테륨 버클 배경



*7.2 흑연관 가열 방식: 세로 가열



7.3 흑연로 부품

7.3.1 흑연관과 플랫폼, 석영창이 있는 밀폐된 공간에 설치하고 가스로, 냉각수도관, 전선이 있는 플러그 끈을 통해 전력 공급 전원에 영구적으로 연결한다

7.3.2 2방향 타성 보호 가스

7.3.3 온도 범위: 실온~3000℃

7.3.4 컴퓨터가 제어하는 최고 온도 상승 속도: 2000℃/s

*7.3.5 단계 제한 없는 온도 프로그래밍, 각 단계마다 온도 상승 및 인슐레이션, 가스 선택 및 판독 옵션 포함

*7.3.6 온도 컨트롤러는 전류와 전압을 모니터링하여 온도 범위, 온도 상승 및 보온 단계에서 에너지 피드백을 사용하여 정확한 제어를 제공합니다.

7.3.7 타성 가스 압력 및 냉각수 압력, 안전 상호 잠금 장치

7.3.8 냉각수의 온도 변화 수정

7.3.9 불활성 가스: Ar 또는 N2, 압력 70-200kPa(10-30psi)

7.3.10 냉각수: 유량 1-2L/mim, 압력 100-200kPa(15-30psi)



7.4 자동 샘플링

*7.4.1 40개의 샘플과 10개의 미리 혼합된 표준 샘플을 수용할 수 있음(또는 최대 10개의 샘플을 위한 자동 혼합 용매 1개)

7.4.2 시료 용적: 2ml(표본과 시료용), 5ml(자동혼합표본용), 10ml(공백용액과 화학개선제용)

7.4.3 샘플링량: 1-100 μl, 1 μl 단위로 프로그래밍 설정

7.4.4 전체 PTFE 소재의 모세관

7.4.5 1리터 세척액 탱크

7.4.6 저장된 좌표값에 따라 컴퓨터가 프로브의 위치를 제어하여 설정

7.4.7 프로그램 옵션은 표준 자동 혼합, 표준 첨가 자동 혼합, 화학 조절제 자동 주사, 다양품 주사, 자동 재측정 및 완전 재교정, 샘플 검사 및 추가 회수



8. 수소발생기

8.1 전체적인 설명

8.1.1 ppb 수준의 As, Sb, Se, Te, Bi, Ge, Sn & Pb 분석을 위한 연속 유동식 수소 및 냉증기 발생 시스템

8.1.2 냉증기법 분석 ppb수준의 Hg에 동시에 사용 가능

*8.1.3 원자흡수공급업체의 원공장에서 생산하고 원자흡수조작소프트웨어를 통해 제어



8.2 성능 분석

*8.2.1 샘플 생산율: 60시간/시간

*8.2.2 ppb 수준, 정밀도 RSD<1%



9 소프트웨어

9.1 전체 설명

9.1.1 Windows 7 기반 소프트웨어 플랫폼

9.1.2 영어 또는 중국어 버전 선택 가능

9.1.3 동일한 브랜드의 모든 기기와 모든 부속품을 제어할 수 있다



9.2 데이터 처리 시스템

9.2.1 원자의 흡수 또는 발사에 대한 분석 결과 제공

9.2.2 3.0Abs까지 흡수 범위

9.2.3 측정 방식: 적분, 측정 평균치, 피크 높이 또는 피크 면적

*9.2.4 최대 50회 반복 판독의 평균 및 RSD

9.2.5 최대 10가지 스플라인 보정 커브

9.2.6 선형 최소 제곱법 곡선 교정

9.2.7 선형 최소 제곱법 곡선 제로 보정

9.2.8 정확한 맞춤 곡선 보정

9.2.8 다항식 곡선 보정

9.2.10 표준 가입 또는 내표

9.2.11 샘플링의 누적 시간이나 샘플링의 누적 개수에 근거하여 프로그래밍은 언제 단일 샘플링을 하고 기울기를 계산하거나 완전한 재조정을 할 것인지를 제어할 수 있다

9.2.12 불필요한 샘플이나 샘플의 판독을 제거할 수 있는 암호 보호 분석 결과

9.2.13 무게 또는 시너 보정

9.2.14 모든 편집은 분석 과정 및 사후 진행 가능



9.3 그래픽 디스플레이

9.3.1 고해상도 컬러 디스플레이: 원자 흡수 신호, 배경 신호, 흑연로 온도 프로그램, 교정 곡선, 피크 측정 및 파장 스캔

9.3.2 중첩 비연속 피크를 포함한 다양한 그래픽 디스플레이 모드

9.3.3 추적 흡수 눈금자 옵션

9.3.4 그래픽 커서를 사용하여 그래픽 추적에서 디지털 정보 얻기

9.3.5 창 확대 기능으로 그래픽 궤적 확장



9.4 디지털 스토리지

9.4.1 도면 궤적과 분석 결과를 연결하는 등 모든 데이터를 저장할 수 있음

9.4.2 분석 방법, 샘플 레이블, 샘플 순서, 방법 순서, 무게 및 시너 보관, 분석 보고서 머리글 및 바닥글, 교정 및 분석 결과



9.5 보고서 생성

9.5.1 보고서는 단일 요소의 분석 결과든 서로 다른 테스트와 서로 다른 기술을 사용하여 얻은 여러 요소의 분석 결과 목록이든 상관없이 모든 스토리지 분석 결과에서 인쇄할 수 있습니다.

9.5.2 모든 운행 매개 변수, 교정 도형, 머리글 바닥글, 방법 설명, 샘플 라벨, 결과 통계와 무게, 희석 인자를 인쇄할 수 있다

9.5.3 소프트웨어는 다양한 프린터 유형 지원



9.6 품질 관리 프로토콜

9.6.1 샘플 검사, 재활용 추가, 품질 관리 상하한, 교정 수정 등 모든 품질 제어 기능을 사용할 수 있음

9.6.2 검사는 미리 설정된 분석 간격이나 분석 횟수에 따라 진행할 수 있다

9.6.3 교체검사는 무작위로 할 수 있다

9.6.4 모든 검사에는 조작자가 설정할 수 있는 실수 제한과 실수 동작이 있다

9.6.5 모든 실수 시험을 표시할 수 있다





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