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제품 상세 정보
UV762 자외선 가시 분광 광도계
약품검사, 의약위생, 생물화학, 환경검측, 상품검측, 석유화학공업, 흑색과 유색야금 등 분야에 널리 사용되며 품질통제, 기술감정과 과학연구소에 필수적인 기본설비이다.
제품 소개:
이 제품은 새로운 듀얼 빔 자동 스캔 자외선 가시 분광 광도계이다.새로운 광학 시스템 설계, 마이크로컴퓨터 제어 및 처리 데이터, 대형 스크린 LCD 중국어 창 디스플레이 조작 메뉴, 스펙트럼 그래프 및 분석 테스트 데이터를 채택했다.광도 측정, 자동 스캔 측정 스펙트럼, 정량 분석, 동력학 분광 광도 분석 등 여러 가지 기능을 갖추고 있다.분석 감도 및 정확도 높음;스펙트럼 데이터 처리 기능이 강하다;중국어 인간과 컴퓨터를 사용하여 대화하고 조작이 편리하다;기기의 외형이 아름답고 대범하다.
주요 특징:
◆ 새로운 광학 시스템 설계, 기기의 본체가 우수한 광학 성능과 측광 성능을 가지도록 하고, 잡산광과 소음이 낮으며, 측광 정확도와 안정성이 높다.
◆ 독특한 듀테륨 램프와 텅스텐 램프 설치, 광원 자동 전환 및 zui의 좋은 위치를 자동으로 찾는 디자인과 작업 방식은 사용자가 기기를 조작하고 교체 광원을 수리하는 것을 더욱 편리하고 정확하며 안전하게 한다.
◆ 우수한 소프트웨어 설계와 편성으로 기기가 비교적 강한 스펙트럼 데이터 처리 기능을 가지게 한다: 자동 스캔 측정 스펙트럼, 다파장 (1-3 람다) 측정, 동력학 측정, 1-3차 곡선 의합, 1-4 단계 도수 스펙트럼, 액세스 디스플레이 인쇄 스펙트럼 그래프와 분석 데이터.
◆ 대형 스크린 중국어 창 디스플레이로 좋은 휴먼 컴퓨터 대화 인터페이스를 갖추고 있다.
UV762 자외선 가시 분광 광도계
성능 지표:
◆ 파장 범위: 200nm-1100nm
◆ 파장 zui 큰 허용오차: ≤±0.5nm
◆ 파장 반복성: ≤0.2nm
◆ 투과가 주이보다 큰 허용오차: ±0.5%(‐)
◆ 투과비 중복성: 0.2%(‐)
◆ 스펙트럼 대역폭: 2nm
◆ 베이스라인 평직도: ±0.004A(200nm-1000nm)
◆ 드리프트: 0.004A/h(500nm에서 2시간 예열)
◆ 잡광: 0.15%T(220nm에서 Nal로 측정)(360nm에서 NaNO2로 측정)
약품검사, 의약위생, 생물화학, 환경검측, 상품검측, 석유화학공업, 흑색과 유색야금 등 분야에 널리 사용되며 품질통제, 기술감정과 과학연구소에 필수적인 기본설비이다.
제품 소개:
이 제품은 새로운 듀얼 빔 자동 스캔 자외선 가시 분광 광도계이다.새로운 광학 시스템 설계, 마이크로컴퓨터 제어 및 처리 데이터, 대형 스크린 LCD 중국어 창 디스플레이 조작 메뉴, 스펙트럼 그래프 및 분석 테스트 데이터를 채택했다.광도 측정, 자동 스캔 측정 스펙트럼, 정량 분석, 동력학 분광 광도 분석 등 여러 가지 기능을 갖추고 있다.분석 감도 및 정확도 높음;스펙트럼 데이터 처리 기능이 강하다;중국어 인간과 컴퓨터를 사용하여 대화하고 조작이 편리하다;기기의 외형이 아름답고 대범하다.
주요 특징:
◆ 새로운 광학 시스템 설계, 기기의 본체가 우수한 광학 성능과 측광 성능을 가지도록 하고, 잡산광과 소음이 낮으며, 측광 정확도와 안정성이 높다.
◆ 독특한 듀테륨 램프와 텅스텐 램프 설치, 광원 자동 전환 및 zui의 좋은 위치를 자동으로 찾는 디자인과 작업 방식은 사용자가 기기를 조작하고 교체 광원을 수리하는 것을 더욱 편리하고 정확하며 안전하게 한다.
◆ 우수한 소프트웨어 설계와 편성으로 기기가 비교적 강한 스펙트럼 데이터 처리 기능을 가지게 한다: 자동 스캔 측정 스펙트럼, 다파장 (1-3 람다) 측정, 동력학 측정, 1-3차 곡선 의합, 1-4 단계 도수 스펙트럼, 액세스 디스플레이 인쇄 스펙트럼 그래프와 분석 데이터.
◆ 대형 스크린 중국어 창 디스플레이로 좋은 휴먼 컴퓨터 대화 인터페이스를 갖추고 있다.
UV762 자외선 가시 분광 광도계
성능 지표:
◆ 파장 범위: 200nm-1100nm
◆ 파장 zui 큰 허용오차: ≤±0.5nm
◆ 파장 반복성: ≤0.2nm
◆ 투과가 주이보다 큰 허용오차: ±0.5%(‐)
◆ 투과비 중복성: 0.2%(‐)
◆ 스펙트럼 대역폭: 2nm
◆ 베이스라인 평직도: ±0.004A(200nm-1000nm)
◆ 드리프트: 0.004A/h(500nm에서 2시간 예열)
◆ 잡광: 0.15%T(220nm에서 Nal로 측정)(360nm에서 NaNO2로 측정)
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