신형 EA1280은 중국 표준(GB 기준)에서 권장하는 검출기 해상도를 갖추고 있어 Si-PIN 다이오드 등 다른 반도체 검출기보다 생산성과 분석 정확도가 높다.특히 X선 형광 분석은 다른 분석 방법에 비해 빠르고 손상되지 않으며 간단한 원소 분석을 제공하기 때문에 RoHS 규정 준수 선별 검사에 지속적으로 여러 번 사용됩니다.

1.신형 고성능 반도체 검출기 (실리콘 드리프트 검출기 (SDD) 를 사용하여 테스트 작업 효율을 높이고 더 신뢰할 수있는 결과를 쉽게 얻을 수 있습니다.

2. 동축 광학 부품을 사용하여 샘플 관찰과 X선을 투사하여 각종 샘플을 분석하기 편리하다.

3. 사용이 간편한 소프트웨어를 사용하여 운영자가 간단한 품질 관리 및 프로세스 제어 교육만으로 분석기를 사용할 수 있도록 합니다.