XGT형 스펙트럼 중성 감쇠 투과율 저하 시뮬레이터

주요 매개변수:
계기 측정 파장 명목치(589nm, 880nm, 882nm) 상하 10nm 범위 내에서 감쇠비가 10%, 1%인 경우 그 감쇠의 상대적 변화는 ±20%를 넘지 않는다.투과율 스펙트럼 중성 감쇠 시뮬레이터의 내응력이 회전 광도에 미치는 영향은 기기의 소분도 표시값을 초과하지 않는다.

XGT형 스펙트럼 중성 감쇠 투과율 저하 시뮬레이터

주요 매개변수:
계기 측정 파장 명목치(589nm, 880nm, 882nm) 상하 10nm 범위 내에서 감쇠비가 10%, 1%인 경우 그 감쇠의 상대적 변화는 ±20%를 넘지 않는다.투과율 스펙트럼 중성 감쇠 시뮬레이터의 내응력이 회전 광도에 미치는 영향은 기기의 소분도 표시값을 초과하지 않는다.

XGT형 스펙트럼 중성 감쇠 투과율 저하 시뮬레이터

주요 매개변수:
계기 측정 파장 명목치(589nm, 880nm, 882nm) 상하 10nm 범위 내에서 감쇠비가 10%, 1%인 경우 그 감쇠의 상대적 변화는 ±20%를 넘지 않는다.투과율 스펙트럼 중성 감쇠 시뮬레이터의 내응력이 회전 광도에 미치는 영향은 기기의 소분도 표시값을 초과하지 않는다.

XGT형 스펙트럼 중성 감쇠 투과율 저하 시뮬레이터

주요 매개변수:
계기 측정 파장 명목치(589nm, 880nm, 882nm) 상하 10nm 범위 내에서 감쇠비가 10%, 1%인 경우 그 감쇠의 상대적 변화는 ±20%를 넘지 않는다.투과율 스펙트럼 중성 감쇠 시뮬레이터의 내응력이 회전 광도에 미치는 영향은 기기의 소분도 표시값을 초과하지 않는다.

XGT형 스펙트럼 중성 감쇠 투과율 저하 시뮬레이터

주요 매개변수:
계기 측정 파장 명목치(589nm, 880nm, 882nm) 상하 10nm 범위 내에서 감쇠비가 10%, 1%인 경우 그 감쇠의 상대적 변화는 ±20%를 넘지 않는다.투과율 스펙트럼 중성 감쇠 시뮬레이터의 내응력이 회전 광도에 미치는 영향은 기기의 소분도 표시값을 초과하지 않는다.