제이스 Xradia 510 Versa- 글로벌 공급자

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제이스 Xradia 510 Versa

광원 밀리미터에서 인치까지 다양한 기능을 제공하는 넓은 작업 거리에서도 ZEISSXradia510Versa3DX선 현미경(XRM)을 사용하여 업계 최고의 원위치/4D 솔루션인 XRM을 새롭게 발견할 수 있습니다.우리의 독특한 RaaD (원거리 해상도) 기능은 밀리미터에

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제품 소개

광원으로부터 밀리미터 ~ 인치 거리의 다용도 작동 거리

업계 최고의 오리지널/4D 솔루션인 ZEISSXradia510Versa3DX선 현미경(XRM)을 이용한 새로운 발견 수준우리의 독특한 RaaD (원거리 해상도) 기능은 밀리미터에서 센티미터 샘플의 1마이크로미터 해상도 장벽을 깨뜨렸다.

이 기구는 세계 최고의 해상도와 명암비를 유연한 작업 거리와 완벽하게 결합하여 실험실에서 무손실 영상 능력을 확대한다.

이점:

XradiaVersa 아키텍처는 2단계 확대 기술을 사용하여 먼 곳(RaaD)에서도 고유하게 해상도를 구현할 수 있습니다.첫 번째 단계에서는 기존의 마이크로 CT와 마찬가지로 기하학적 확대 배수를 통해 샘플 이미지를 확대합니다.두 번째 단계에서 플래시는 X선을 가시광선으로 변환한 다음 광학적으로 확대합니다.기하학적 증폭률에 대한 의존도를 줄이면 XradiaVersa 기기가 큰 작동 거리 내에서 마이크로미터 해상도를 유지할 수 있습니다.이를 통해 제자리 실내를 포함한 가장 광범위한 샘플의 양을 효과적으로 연구할 수 있습니다.또한 시스템 코어 아키텍처의 이점을 확장하는 다양한 옵션 기능을 제공합니다.

비파괴 3D 이미징을 사용하여 가치 있는 샘플의 사용을 보존하고 확장

고유한 Versa 현미경 설계를 사용하여 원위치와 대형 샘플 이미징의 전제 조건인 광원으로부터 최대 작동 거리에서 최고 해상도를 구현합니다.

넓은 범위의 증폭률에서 같은 샘플의 다길이 척도는 <0.7μm의 실제 공간 해상도와 70nm 체소 크기보다 낮다.

다양한 현장 시추기를 지원하는 업계 최고의 4D 및 현장 기능, 실제 크기 샘플 (mm ~ 인치) 의 마이크로미터 이미징, 무게 25kg, 샘플 크기 300mm

다중 확대 감지 시스템을 통해 쉽게 탐색할 수 있는 고유한 이중 확대 아키텍처, 자동 다중 스캔 및 반복 스캔을 통한 연속 작동, 고속 재구축

낮은 Z 소재 및 소프트 조직의 고급 흡수 및 조화

Scout-and-Scan™다중 사용자 환경에 이상적인 제어 시스템, 사용이 간편한 워크플로우 설정

원본에서 밀리미터에서 인치까지의 실제 마이크로미터 공간 해상도:

Xradia510Versa는 다양한 연구 환경에서 유연한 3D 이미징을 구현하는 XRM(Xradia현미경)의 효과를 극대화합니다.Xradia510Versa는 실제 공간 해상도가 0.7μm보다 우수하고 구현 가능한 체소 크기는 70nm 미만이다. 첨단 흡수 명암비와 혁신적인 위상 대비를 통해 연성 또는 저Z 소재의 다기능성을 경험함으로써 기존 컴퓨터 단층 촬영의 한계를 극복했다.

micro-CT를 능가하는 성능을 구현하고 과학 연구를 태블릿 시스템의 한계 밖으로 확장합니다.전통적인 계층 분석 영상은 단일 레벨 증폭 배율에 의존하며, XradiaVersa 기기는 동기식 가속기-구경 광학 시스템을 기반으로 하는 독특한 2단계 과정을 사용하며, 그 검측 시스템은 해상도, 명암비 및 큰 작업 거리에서의 높은 해상도에 최적화되어 있다.장거리 ZEISS 해상도(RaaD)를 통해 다양한 응용프로그램 및 샘플 유형에 대한 전례 없는 랩 기반 탐색을 수행할 수 있습니다.

비파괴 X선과 유연한 확대 / 축소 기능을 통해 다양한 확대 배율에서 동일한 샘플을 이미징할 수 있습니다.업계 최고의 4D/오리지널 솔루션인 XradiaVersa를 사용하면 기본 환경에서 재료의 미시적 구조를 고유하게 표현하고 시간에 따른 성능 변화를 연구할 수 있습니다.옵션으로 제공되는 Versa 오리지널 키트를 사용하면 설치를 최적화하고 작업을 단순화하며 결과 시간을 단축할 수 있으며, 배선 및 파이프와 같은 필드 드릴을 지원하는 시설을 구성하여 이미징 성능과 사용 편의성을 극대화할 수 있습니다.

또한 Scout-and-Scan 제어 시스템은 레시피 기반 설정을 통해 효율적인 워크플로우 환경을 구현하여 Xradia510Versa가 다양한 경험 수준의 사용자에게 편의를 제공하기 쉽습니다.

최소 샘플 제조 필요

VersaInSituKit 옵션은 최적의 이미징 성능과 간편한 설정을 위해 배선 및 파이프와 같은 환경실을 지원하는 시설을 구성할 수 있습니다.

Autoloader 옵션을 사용하면 최대 14개의 샘플을 한 번에 프로그래밍하고 실행할 수 있어 생산성을 극대화하고 대용량 스캔을 위한 자동화된 워크플로우를 구현할 수 있습니다.

선택 가능한 3 좌표 측정기

브리지 3 좌표 측량기

ZEISS SPECTRUM 스캔 측정 플랫폼

ZEISS PRISMO

ZEISS ACCURA

ZEISS MICURA 작은 크기 * 정밀도

ZEISS CONTURA 컴팩트형

ZEISS XENOS

ZEISS SPECTRUM 이동식

ZEISS MICURA 이동식

ZEISS CONTURA

ZEISS PRISMO

ZEISS CONTURAZEISS ACCURA

복합식 삼좌표

ZEISS O-INSPECT322

ZEISS O-INSPECT543

ZEISS O-INSPECT863

대형 용문식 고정밀 삼좌표 측량기

ZEISS MMZ G

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삼좌표 측량기를 생산하다.

ZEISS CenterMax

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현수식 삼좌표 측량기

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컴퓨터 단층 스캐닝 측량기

ZEISS METROTOM 6 scout

ZEISS Xradia610 & 620 Versa

ZEISS Xradia 800 Ultra

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ZEISS Xradia 510 Versa

ZEISS SRE MAXX 방사선 차폐 캐비닛

ZEISS METROTOM 800

ZEISS METROTOM 1500

프로덕션 프로세스 제어 및 검사 절차

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